Nalazite se na CroRIS probnoj okolini. Ovdje evidentirani podaci neće biti pohranjeni u Informacijskom sustavu znanosti RH. Ako je ovo greška, CroRIS produkcijskoj okolini moguće je pristupi putem poveznice www.croris.hr
izvor podataka: crosbi

Određivanje zabranjene zone poluvodiča metodom UV- Vis difuzne refleksijske spektroskopije (CROSBI ID 269732)

Prilog u časopisu | izvorni znanstveni rad | domaća recenzija

Kurajica, Stanislav ; Mandić, Vilko ; Tkalčević, Marija ; Mužina, Katarina ; Munda, Ivana Katarina Određivanje zabranjene zone poluvodiča metodom UV- Vis difuzne refleksijske spektroskopije // Kemija u industriji : časopis kemičara i tehnologa Hrvatske, 68 (2019), 9-10; 415-426. doi: 10.15255/KUI.2019.044

Podaci o odgovornosti

Kurajica, Stanislav ; Mandić, Vilko ; Tkalčević, Marija ; Mužina, Katarina ; Munda, Ivana Katarina

hrvatski

Određivanje zabranjene zone poluvodiča metodom UV- Vis difuzne refleksijske spektroskopije

U radu je dan pregled pojmova i jednadžbi vezanih uz određivanje zabranjene zone metodom difuzne refleksijske spektroskopije i uporabu Taucova grafičkog prikaza. Kako bi se demonstrirao postupak i vrednovala sama metoda, primjenom metode određena je zabranjena zona komercijalnih uzoraka anatasa, rutila, cinkita i hematita. Na temelju eksperimentalno dobivenih vrijednosti širine zabranjene zone komentirana je točnost metode te osjetljivost pri razlikovanju poluvodiča s direktnim i indirektnim prijelazima. Pokazano je da Taucova metoda nije besprijekorna niti u pogledu točnosti niti razlikovanja indirektnih i direktnih elektronskih prijelaza u poluvodičkim materijalima, ali je vrlo praktičan način određivanja širine zabranjene zone poluvodiča budući da ne zahtijeva pretjerano skupu instrumentaciju a obrada eksperimentalnih podataka relativno je jednostavna.

Taucov grafički prikaz ; zabranjena zona ; difuzna refleksijska spektroskopija ; poluvodiči ; metalni oksidi

nije evidentirano

engleski

Determination of the semiconductors band gap by UV- vis diffuse reflectance spectroscopy

nije evidentirano

Tauc's plot ; band gap ; diffuse reflectance spectroscopy ; semiconductors ; metal oxides

nije evidentirano

Podaci o izdanju

68 (9-10)

2019.

415-426

objavljeno

0022-9830

1334-9090

10.15255/KUI.2019.044

Povezanost rada

Kemija, Kemijsko inženjerstvo, Temeljne tehničke znanosti

Poveznice