Nalazite se na CroRIS probnoj okolini. Ovdje evidentirani podaci neće biti pohranjeni u Informacijskom sustavu znanosti RH. Ako je ovo greška, CroRIS produkcijskoj okolini moguće je pristupi putem poveznice www.croris.hr
izvor podataka: crosbi !

Istraživanje pomaka plohe s nanometarskom razlučivosti pri rastu monokristala metodom rasčlambe dvodimenzionalnih interferograma u realnom vremenu (CROSBI ID 487513)

Prilog sa skupa u zborniku | sažetak izlaganja sa skupa

Lovrić, Davorin ; Vučić, Zlatko ; Gladić, Jadranko ; Mitrović, Slobodan ; Milas, Mirko ; Demoli, Nazif Istraživanje pomaka plohe s nanometarskom razlučivosti pri rastu monokristala metodom rasčlambe dvodimenzionalnih interferograma u realnom vremenu // Treći znanstveni sastanak Hrvatskog fizikalnog društva, Knjiga sažetaka / Jakšić, Milko ; Kokanović, Ivan ; Milošević, Slobodan (ur.). Zagreb: Hrvatsko fizikalno društvo, 2001. str. 110-x

Podaci o odgovornosti

Lovrić, Davorin ; Vučić, Zlatko ; Gladić, Jadranko ; Mitrović, Slobodan ; Milas, Mirko ; Demoli, Nazif

hrvatski

Istraživanje pomaka plohe s nanometarskom razlučivosti pri rastu monokristala metodom rasčlambe dvodimenzionalnih interferograma u realnom vremenu

Istraživali smo in situ nove modove rasta ravnih površina sfernih monokristala bakarnog selenida gotovo ravnotežnog oblika na temperaturi od oko 800 K (kod koje na površini postoje atomski glatke plohe međusobno razdvojene atomski neravnim zaobljenim dijelovima) interferometrijskim mjerenjima pomaka plohe. Interferometrijske smo slike snimali pomoću CCD kamere i sustava optičkih leća, učestalošću od 25 slika u sekundi. Pojedinačnu 2-d sliku, interferogram sa 256 razina sive boje, rasčlanjivali smo na mreži od 64*64 piksela. Rabili smo metodu Fourierove rasčlambe interferencijskog uzorka oblika: g(r)=a(r)+b(r)cos[2&#960 ; fr+&#934 ; (r)], u kojem je željeni podatak sadržan u faznom polju &#934 ; (r). FT interferograma sastoji od elemenata koji su međusobno udaljeni za prostornu frekvenciju f. Posupak se nastavlja izdvajanjem jednog od maksimuma prvog reda, njegovom translacijom u ishodište inverznog prostora, te inverznom FT. Nakon toga jednostavno je izdvojiti fazno polje &#934 ; (r). Metoda je u našem radu oplemenjena s dvije novine. Jedna je dinamičko oduzimanje pozadine na izvornim interferogramima, koje uzima u obzir vrememsku promjenjivost pozadine-šuma. Drugo je poboljšanje točno određivanje f, koja je određena brojem interferencijskih pruga na mreži, što znači da je teško očekivati da njena prava vrijednost bude cjelobrojna (u pikselima). Primijenili smo 2-d inačicu teorema o uzorcima, kojom je moguće "egzaktno" interpolirati kontinuirane funkcije, kakva i jest norma od g(q) . Na taj smo način odredili popravku &#948 ; cjelobrojne vrijednosti od f. Razvojem g(q) u Taylorov red moguće je odrediti subpikselsku popravku faznog polja, &#948 ; &#934 ; (r), koja dodana faznom polju &#934 ; 0(r) odeđenom na temelju cjelobrojne vrijednosti od f daje točnu vrijednost faznog polja &#934 ; (r). Opisana je metoda provjerena na probnim interferogramima, te je primjenjena na istraživanje rasta (111) plohe nestehiometrijskog monokristala bakarnog selenida.

nije evidentirano

nije evidentirano

engleski

Nanometre resolution investigations of facet displacement during the single crystal growth using the real-time analysis of full two-dimensional digitised interferograms

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

Podaci o prilogu

110-x.

2001.

objavljeno

Podaci o matičnoj publikaciji

Treći znanstveni sastanak Hrvatskog fizikalnog društva, Knjiga sažetaka

Jakšić, Milko ; Kokanović, Ivan ; Milošević, Slobodan

Zagreb: Hrvatsko fizikalno društvo

Podaci o skupu

Treći znanstveni sastanak Hrvatskog fizikalnog društva

poster

05.12.2001-07.12.2001

Zagreb, Hrvatska

Povezanost rada

Fizika