Nalazite se na CroRIS probnoj okolini. Ovdje evidentirani podaci neće biti pohranjeni u Informacijskom sustavu znanosti RH. Ako je ovo greška, CroRIS produkcijskoj okolini moguće je pristupi putem poveznice www.croris.hr
izvor podataka: crosbi

Karakterizacija dielektričnih slojeva u poluvodičkoj industriji (CROSBI ID 487172)

Prilog sa skupa u zborniku | izvorni znanstveni rad | domaća recenzija

Sinovčević, Renata ; Muštra, Srećko ; Gojo, Miroslav ; Praček, Borut Karakterizacija dielektričnih slojeva u poluvodičkoj industriji // IX. jugoslovenski simpozijum o elektrohemiji : radovi / Adžić, Radoslav ; Nikolić, Branislav (ur.). Beograd: Srpsko hemijsko društvo, 1985. str. 367-370

Podaci o odgovornosti

Sinovčević, Renata ; Muštra, Srećko ; Gojo, Miroslav ; Praček, Borut

hrvatski

Karakterizacija dielektričnih slojeva u poluvodičkoj industriji

Dielektrični slojevi u poluvodičkoj industriji služe za zaštitu mikroelektroničkih elemenata od vanjskih utjecaja, za intermetalnu izolaciju, kao barijera alfa česticama, kao maskirajući slojevi za selektivnu izmjenu vodljivosti poluvodičkog substrata kao i u nekim drugim postupcima. Danas se od anorganskih slojevaa najviše koriste silicijev nitrid, te silicijev oksid, a od organskih dielektrika polimerni slojevi poliimidnog tipa. Izbor odgovarajućeg dielektrika ovisi o njegovim fizikalnim, termičkim i električnim svojstvima. navedena svojstva moraju biti u najužoj vezi s procesom depozicije sloja. Ovaj rad iznosi rezultate karakterizacije silicijevog nitrida kao predstavnika anorganskih, te poliimida kao predstavnika organskih dielektričnih slojeva. Dobiveni rezultati ukazuju da i anorganski i organski tip dielektričnog sloja zadovoljavaju postavljene zahtjeve zaštite mikroelektroničkih elemenata, a kombinacija silicijevog nitrida i poliimida dala bi najbolju zaštitu.

dielektrični slojevi; poliimid; poluvodička industrija; silicijev nitrid

nije evidentirano

engleski

Characterisation of dielectric layer in semiconductive idustry

nije evidentirano

dielectric layer; polyimid; semiconductor insustry; silicon nitride

nije evidentirano

Podaci o prilogu

367-370.

1985.

objavljeno

Podaci o matičnoj publikaciji

IX. jugoslovenski simpozijum o elektrohemiji : radovi

Adžić, Radoslav ; Nikolić, Branislav

Beograd: Srpsko hemijsko društvo

Podaci o skupu

Jugoslovenski simpozijum o elektrohemiji (9 ; 1985)

predavanje

01.06.1985-06.06.1985

Dubrovnik, Jugoslavija

Povezanost rada

nije evidentirano